[发明专利]电子设备的数据处理性能的测试方法及装置有效
| 申请号： | 201410265172.1 | 申请日： | 2014-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN105446848B | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | 王颢 | 申请（专利权）人： | 北京安兔兔科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/28 | 分类号： | G06F11/28 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 项京;马敬 |
| 地址： | 100041 北京市石景山区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种电子设备的数据处理性能的测试方法及装置。该方法包括：接收开始测试指令并响应，记录当前的第一系统时间，执行对数据处理性能的测试；在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；依据两时间之差，确定数据处理性能；执行对数据处理性能的测试包括：通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从存储器中读取已写入的数据。可见，本方案实现了对电子设备数据处理性能的测试，提高了性能测试的全面性。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 数据处理 性能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子设备的数据处理性能的测试方法，其特征在于，包括：接收开始测试指令；响应所述开始测试指令，记录当前的第一系统时间，并执行对电子设备的数据处理性能的测试；在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；依据所述第二系统时间和所述第一系统时间之差，确定所述电子设备的数据处理性能；其中，执行对电子设备的数据处理性能的测试，包括：通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，其中，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器，包括：每个所述符合预定大小的文件以至少一个数据块的方式写入到所述存储器中，各个所述数据块不同，并且，每一文件的本次待写入的数据块经过第一加工方式处理得到所述文件对应的下一次待写入的数据块；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据。
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