[发明专利]一种立靶精度测试系统及测试方法有效
申请号: | 201410269764.0 | 申请日: | 2014-06-17 |
公开(公告)号: | CN104154827A | 公开(公告)日: | 2014-11-19 |
发明(设计)人: | 李翰山 | 申请(专利权)人: | 西安工业大学 |
主分类号: | F42B35/02 | 分类号: | F42B35/02 |
代理公司: | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人: | 葛强;邬玥 |
地址: | 710021 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明提供一种立靶精度测试系统,其包括探测靶体、供电电源以及终端计算机,其中,供电电源为探测靶体提供电能,探测靶体通过电缆线将数据信号传输到终端计算机。立靶精度测试系统中的探测靶体相对枪炮发射目标的方向设置在弹道线的测试位置上,探测靶体包括外壳体、多个光学采集和处理单元、微处理计算机以及计时处理电路。本发明提供的立靶精度测系统装置,利用三个光电探测原理和两个线阵CCD图像交汇原理构建了五个交汇光幕空间几何阵列,实现了一体化的目标速度、坐标、飞行偏向角度测量,简化了传统独立装置结构布置繁琐劳动,减少了传统布置过程中外场测量参数由于地势不平等因素对测试参数的影响。 | ||
搜索关键词: | 一种 精度 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种立靶精度测试系统,其包括探测靶体(20)、供电电源(21)以及终端计算机(22),其中,供电电源(21)为探测靶体(20)提供电能,探测靶体(20)通过电缆线将数据信号传输到终端计算机(22),其中,探测靶体(20)相对枪炮发射目标的方向设置在弹道线的测试位置上,其特征在于:探测靶体(20)包括外壳体、多个光学采集和处理单元、微处理计算机(11)以及计时处理电路(10),其中,外壳体为中空结构且上表面设置成两端高中间低的凹陷结构,多个光学采集和处理单元设置在外壳体的上表面上,微型计算机(11)和计时处理电路(10)均设置在外壳体的内部。
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