[发明专利]一种阵列基板检测设备在审
申请号: | 201410273951.6 | 申请日: | 2014-06-18 |
公开(公告)号: | CN104090387A | 公开(公告)日: | 2014-10-08 |
发明(设计)人: | 马禹 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01R31/02 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;陈源 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种阵列基板检测设备,其包括信号输入单元和信号检测单元,信号输入单元与多个阵列基板连接,用以向多个阵列基板输入检测信号,信号检测单元用于采集阵列基板中各像素的电学波形信号,并确定阵列基板上的像素是否存在缺陷,每个所述阵列基板和所述信号输入单元之间均连接有通断开关。上述阵列基板检测设备可以独立地仅向某一个需要进行检测的阵列基板输入检测信号,从而,在信号检测单元检测到阵列基板中的像素存在缺陷时,上述阵列基板检测设备可以准确地区分出像素存在缺陷的阵列基板。 | ||
搜索关键词: | 一种 阵列 检测 设备 | ||
【主权项】:
一种阵列基板检测设备,包括信号输入单元和信号检测单元,所述信号输入单元与多个阵列基板连接,用以向多个所述阵列基板输入检测信号,所述信号检测单元用于采集所述阵列基板中各像素的电学波形信号,并确定阵列基板上的像素是否存在缺陷,其特征在于,每个所述阵列基板和所述信号输入单元之间连接有通断开关。
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