[发明专利]一种高分子超薄膜相转变温度的测定方法有效
| 申请号： | 201410274669.X | 申请日： | 2014-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN104020185A | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 卢晓林;李柏霖 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01N25/04 | 分类号： | G01N25/04;G01N25/12 |
| 代理公司： | 江苏永衡昭辉律师事务所 32250 | 代理人： | 王斌 |
| 地址： | 210096*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高分子超薄膜相转变温度的测定方法。本发明将高分子超薄膜镀在基底上，采用脉冲式的一束可见光和一束红外光照射到镀在基底的高分子超薄膜上，由于金属基底的光学非线性响应将发射出一束可探测的表面等离子体的光学信号。通过测定不同温度下高分子超薄膜的结构变化对表面等离子体信号强度的扰动，即可得到信号强度随温度变化的曲线，该曲线的转折点即为相应高分子超薄膜的相转变温度。该方法测量简单，准确度高，重现性好，可以实现原位测量，具有广阔的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高分子 薄膜 转变 温度 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种高分子超薄膜相转变温度的测定方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤一，两束脉冲的入射光照射在镀有高分子超薄膜的基底表面，产生二阶效应下的表面等离子体信号；步骤二，逐步升高所述基底表面的温度，采集基底表面的等离子体信号强度；步骤三，将温度与所述等离子体信号强度进行线性拟合，所得曲线的转折点确定为该超薄膜的相转变温度。
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