[发明专利]一种市电检测装置及检测方法有效
申请号: | 201410277502.9 | 申请日: | 2014-06-19 |
公开(公告)号: | CN104049143B | 公开(公告)日: | 2017-10-31 |
发明(设计)人: | 金乃庆;童怀俊;王盼盼;廖礼军;刘林 | 申请(专利权)人: | 惠而浦(中国)股份有限公司 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02;G01R19/175;G01R19/00 |
代理公司: | 合肥顺超知识产权代理事务所(特殊普通合伙)34120 | 代理人: | 周发军 |
地址: | 230088 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种市电检测装置及其检测方法,市电检测装置包括,在市电输入N线上通过所述二极管D1取信号,二极管D1半波整形后经分压取得V1后送入比较器第一输入端;比较器第二输入端为设定比较电压V2,比较器输出端的输出信号送给MCU的外部中断口;当V1>V2时则比较器输出低电平,反之输出高电平。市电检测方法包括,识别市电频率;识别上升沿中断产生后延迟△t时间,从而获取零点信号时间;根据比较器输出电平翻转点时刻比较器输入电压相等,计算出当前市电电压幅值。本发明能同时检测当前市电的频率、零点及电压幅值。该装置电路结构简单,所需元器件少,成本低,检测方法快速、精确度高。值得推广应用。 | ||
搜索关键词: | 一种 市电 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种基于市电检测装置的市电检测方法,其特征在于,所述市电检测装置包括检测电路和微处理器MCU,所述检测电路包括二极管D1,电阻R1、R2,电阻R3、R4,比较器;在市电输入N线上通过所述二极管D1取信号,二极管D1半波整形后经电阻R1、R2分压取得V1后送入比较器第一输入端,比较器第二输入端为设定比较电压V2,所述V2为R3与R4的分压,比较器输出端的输出信号送给MCU的外部中断口;高电平VCC与L线相连,N线取信号后经二极管D1、电阻R1、R2后流入电源地,高电平VCC经电阻R3、R4后流入电源地;当V1>V2时则比较器输出低电平,反之输出高电平;所述市电检测方法包括以下步骤:识别连续两次下降沿端口中断的时间间隔,即当前下降沿中断产生到下次下降沿产生的时间间隔,为市电周期T,则半波周期为T/2;市电频率F则为F=1/T;识别当前下降沿中断与下次上升沿中断的时间间隔,即为比较器输入电压高于比较器设定电压的时间tK;由于市电正弦信号的对称性,则上升沿中断产生后延迟△t时间为市电零点时间,则△t=(T/2‑tK)/2;从而获取零点信号时间;比较器输出电平翻转点时刻tR=(T/2‑tK)/2,翻转时刻时比较器输入电压相等;则V1=V2;V1=Vm*sin(2πωT)*R2/(R1+R2),即Vm=V2/[sin(2πωT)*R2/(R1+R2)],计算出当前市电电压幅值。
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