[发明专利]可变电阻存储装置及其制造方法在审
申请号: | 201410277644.5 | 申请日: | 2014-06-19 |
公开(公告)号: | CN104576678A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 孙敏硕 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | H01L27/24 | 分类号: | H01L27/24;H01L45/00 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 毋二省;俞波 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供了一种可变电阻存储装置及其制造方法。所述可变电阻存储装置包括多个存储单元。存储单元中的每一个包括多个数据储存区。多个数据储存区彼此具有不同的宽度。 | ||
搜索关键词: | 可变 电阻 存储 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种可变电阻存储装置,包括:多个存储单元,所述存储单元中的每一个包括多个数据储存区,其中所述多个数据储存区彼此具有不同的宽度。
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H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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