[发明专利]暴露高能(001)晶面六方相CdS纳米片的制备方法有效

专利信息
申请号: 201410282977.7 申请日: 2014-06-23
公开(公告)号: CN104085915A 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 杨合情;王姣;金荣;田志霞;贾文静;马斓 申请(专利权)人: 陕西师范大学
主分类号: C01G11/02 分类号: C01G11/02;B82Y30/00
代理公司: 西安永生专利代理有限责任公司 61201 代理人: 高雪霞
地址: 710062 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种暴露高能(001)晶面六方相CdS纳米片的制备方法,采用简单的回流法,制备成暴露高能(001)晶面小尺寸六方相CdS超薄纳米片,CdS纳米片对角线尺寸为5~50nm、厚度为0.59~10nm。本发明操作简单,成本低,重复性好,所制备的暴露高能(001)晶面六方相CdS纳米片有望在光催化、太阳能电池、超离子导体、锂离子电池和超级电容器等应用中体现增强的光电性能。
搜索关键词: 暴露 高能 001 晶面六方相 cds 纳米 制备 方法
【主权项】:
一种暴露高能(001)晶面六方相CdS纳米片的制备方法,其特征在于:将CdCl2·2.5H2O、十二硫醇加入油胺中,搅拌,在惰性气氛下升温至220~350℃,恒温搅拌回流1~10小时,所述的CdCl2·2.5H2O与十二硫醇的摩尔比为1:5~200,油胺与十二硫醇的体积比为1~10:1,制备成暴露高能(001)晶面六方相CdS纳米片。
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