[发明专利]一种热盘工艺密闭腔自动调整装置有效
申请号: | 201410293319.8 | 申请日: | 2014-06-25 |
公开(公告)号: | CN105321838B | 公开(公告)日: | 2018-02-13 |
发明(设计)人: | 王丽鹤 | 申请(专利权)人: | 沈阳芯源微电子设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司21002 | 代理人: | 何丽英 |
地址: | 110168 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及晶圆在热盘内工艺时需形成密闭腔的装置,具体地说是一种热盘工艺密闭腔自动调整装置。包括驱动机构、盘盖升降机构、盘盖、密封环、下密封体、盘体及底板,其中驱动机构和下密封体安装在底板上,所述盘体设置于下密封体内,所述盘盖设置于密封体的上端,所述盘体与盘盖和下密封体之间形成工艺腔室,所述盘盖上沿周向设有自调整腔体,所述下密封体上沿周向设有凹槽,所述密封环一端容置于该自调整腔体内,另一端从自调整腔体内伸出、并与下密封体上端的凹槽配合连接,所述盘盖上设有工艺进气口和调整进气口,所述下密封体上设有工艺废气排出口,所述盘盖升降机构的一端与驱动机构连接,另一端与盘盖连接。本发明能避免盘盖与下密封体接触不良导致的工艺废气外泄,实现工艺腔室内的完全密封目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 工艺 密闭 自动 调整 装置 | ||
【主权项】:
一种热盘工艺密闭腔自动调整装置,其特征在于:包括驱动机构(1)、盘盖升降机构(2)、盘盖、密封环(7)、下密封体(8)、盘体(9)及底板(10),其中驱动机构(1)和下密封体(8)安装在底板(10)上,所述盘体(9)设置于下密封体(8)内,所述盘盖设置于下密封体(8)的上端,所述盘体(9)的上表面及侧面分别与盘盖和下密封体(8)之间形成相互连通的第一工艺腔室(a)和第二工艺腔室(c),所述盘盖下端面的外缘上沿周向设有自调整腔体(b),所述下密封体(8)的上端外缘沿周向设有凹槽,所述密封环(7)一端容置于该自调整腔体(b)内、并端部沿径向设有延伸部,密封环(7)的另一端从自调整腔体(b)内伸出、并与下密封体(8)上端的凹槽配合连接,所述盘盖上设有工艺进气口(e)和将外部气源与自调整腔体(b)连通的调整进气口(d),所述下密封体(8)上设有与第二工艺腔室(c)连通的工艺废气排出口(f),所述盘盖升降机构(2)的一端与驱动机构(1)连接,另一端与盘盖连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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