[发明专利]一种荧光光谱偏振度和偏振角的测量方法

摘要

本发明公开了一种荧光光谱偏振度和偏振角的测量方法，用于解决传统的荧光各向异性测量中不同测量偏振角和误差随荧光偏振角度变化的问题，其特征在于：采用荧光测量中常用的L测量方式，通过旋转检偏偏振器，将检偏偏振器的偏振方向调整至与起偏偏振器的出射光线(完全偏振光)的偏振方向平行，然后将检偏偏振器顺时针旋转0度、45度、90度和135度时，分别用光谱仪测量并记录荧光光谱强度，并使用得到的荧光光谱强度计算得到偏振度和偏振角。与现有技术相比，本发明的有益效果是能同时得到荧光偏振度和偏振角，而且偏振度更加准确。

主权项

一种荧光光谱偏振度和偏振角的测量方法，其特征在于：其具体步骤如下：步骤1：将激光光源(1)、起偏偏振器(2)、比色皿(3)、检偏偏振器(4)以及光谱仪(5)放置于同一水平面P)上；比色皿(3)中装载待测样品；步骤2：激光光源(1)发出的连续激光入射至起偏偏振器(2)，其出射光为完全偏振光，偏振方向垂直于水平面P；步骤3：步骤2中所述完全偏振光入射至比色皿(3)中的待测样品上，激发出荧光；所述完全偏振光的入射方向垂直于比色皿(3)的侧表面Q1；步骤4：检偏偏振器(4)平行于与比色皿(3)的表面Q1相邻的表面Q2；步骤3中所述荧光入射至检偏偏振器(4)，其出射光线进入光谱仪(5)；步骤5：将检偏偏振器(4)的偏振方向调整至与步骤2中所述完全偏振光偏振方向平行；步骤6：使用光谱仪(5)测量并记录荧光的光谱强度I(0)；步骤7：将检偏偏振器(4)沿顺时针方向旋转45度，并使用光谱仪(5)测量并记录此时的荧光光谱强度I(45)；步骤8：将检偏偏振器(4)沿顺时针方向再旋转45度，并使用光谱仪(5)测量并记录此时的荧光光谱强度I(90)；步骤9：将检偏偏振器(4)沿顺时针方向再旋转45度，并使用光谱仪(5)测量并记录此时的荧光光谱强度I(135)；步骤10：使用公式(1)计算荧光偏振度DOP，使用公式(2)计算荧光偏振角AOP；$\mathrm{DOP}=\frac{\sqrt{{S_1}^2+{S_2}^2}}{S_0}---\left(1\right)$其中，S₀＝I(0)+(90)；S₁＝I(0)‑(90)；S₂＝2×I(45)‑S₀；$\mathrm{AOP}=\frac{1}{2}\arctan \left(\frac{S_2}{S_1}\right)---\left(2\right)$经过上述步骤的操作，即可得到待测样品的荧光偏振度DOP和偏振角AOP的值。