[发明专利]一种基于多核最优化的合成孔径雷达自动目标识别方法有效

专利信息
申请号: 201410300319.6 申请日: 2014-06-27
公开(公告)号: CN104050489B 公开(公告)日: 2017-04-19
发明(设计)人: 黄钰林;韩昊;刘晓佳;裴季方;武俊杰;杨建宇 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G06K9/66 分类号: G06K9/66
代理公司: 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙)51227 代理人: 周永宏
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于多核最优化的合成孔径雷达自动目标识别方法,包括以下步骤S1SAR图像预处理;S2固定核函数权值向量β,最优化投影矩阵系数向量α,得到最优化目标方程Jα;S3固定投影矩阵系数向量α,最优化核函数权值向量β,得到目标函数Jβ;S4重复步骤S2和S3,直至Jα和Jβ相等且保持不变为止,得到α和β;S5通过投影将高维空间中的样本映射到特征空间中,分别得到训练样本集和测试样本集的图像特征;S6采用最近邻分类器进行分类识别。本发明以最优化的方法求得核函数系数,克服了核方法中不同核函数参数的选择对识别效果影响较大的问题,提高了SAR图像的识别率,具有良好的稳定性和更高的实用价值。
搜索关键词: 一种 基于 多核 优化 合成孔径雷达 自动 目标 识别 方法
【主权项】:
一种基于多核最优化的合成孔径雷达自动目标识别方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:SAR图像预处理,包括以下子步骤:S11:目标分割:找到图像中的目标区域,以目标为中心向周边扩展,分割出包含目标的全部有效信息的图像切片,并对所有的图像切片进行图像增强,将图像增强后的SAR数据集记为其中,xi表示第i幅SAR图像,N表示样本数目,对应的样本类别记为yi是图像xi的类别;S12:数据集分类:将整个SAR数据集进行分类,取train_N个样本作为训练样本,余下的test_N个样本作为测试样本;S2:固定核函数权值向量β,最优化投影矩阵系数向量α,包括以下子步骤:S21:引入一组核函数K=[K1,K2,...,KM],其中,Ki是第i个核函数,采用高斯函数作为核函数进行仿真计算,样本xp与xq的均采用该核函数,其中ti表示第i组核函数的参数;S22:固定核函数权值向量β=[β1,β2,...,βM]T,βi是第i个核函数的权值,用以衡量该核函数的重要性,得到最优化目标方程Jα:Jα=maxΣi=1NΣj=1N||VTφ(xi)-VTφ(xj)||2wij=max(trace(Σi=1NΣj=1N(αTk·iβ-αTk·jβ)(αTk·iβ-αTk·jβ)Twij))=max(trace(2αT(KDKT-KWKT)α))=max(trace(αTK(D-W)KTα))=max(trace(αTSwBα))]]>限制条件J'α为:其中,trace表示矩阵的对角元素求和,V为投影向量,用于将图像投影到特征空间,T为转置符号,φ(xi)为图像xi在高维空间中的表达式,α=[α1,α2,...,αN]T,αi表示φ(xi)的系数,αi用于线性表出投影向量V;S23:计算在固定β情况下的表示不同类别样本间距的矩阵其中,D为对角矩阵,其对角线上元素为:ε为预先设定的常数,同时,计算表示同类别样本间距的矩阵 D'为对角矩阵,其对角线上元素为:S24:对矩阵进行特征值分解,求出其最大的前l个特征值,将其对应的特征向量作为α的值;S3:固定投影矩阵系数向量α,最优化核函数权值向量β,包括以下子步骤:S31:步骤S2中得到了一组投影矩阵系数向量α,固定α,得到目标函数Jβ:Jβ=maxΣi=1NΣj=1N||VTφ(xi)-VTφ(xj)||2wij=max(Σi=1NΣj=1N(αTk·iβ-αTk·jβ)T(αTk·iβ-αTk·jβ)wij)=max(Σi=1NΣj=1NβT((K(i)-K(j))TααT(K(i)-K(j)))βwij)=max(βTSwAβ)]]>限制条件J'β为:S32:计算在固定α情况下的表示不同类别样本间距的矩阵其中,KM(j,i)=exp(‑||xj‑xi||2/tM),tM为第M个核函数参数;同时,计算在固定α的情况下的表示同类别样本间距的矩阵S33:通过半正定规划,得到最优化目标函数Jβ在条件J'β限制下的最优解,并将此解作为核函数权值向量β的值;S4:迭代更新待求向量:重复步骤S2和S3,直至目标函数Jα和Jβ相等且保持不变为止,得到此模型下的参数α和β;S5:特征提取:根据步骤S4得到的参数α和β,通过投影将高维空间中的样本φ(xi)映射到特征空间中得到xi的特征,其计算公式为:其中,Km(p,j)为图像xp和xj的核函数,通过上述公式分别得到训练样本集图像xi的特征φ(zi)为:φ(zi)=αTK(i)β测试样本集图像x'i的特征φ(z'i)为:其中,KM(j,i)=exp(‑||xj‑x'i||2/tM);S6:分类识别:采用最近邻分类器进行分类识别。
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