[发明专利]存储器的测试装置和测试方法有效
申请号: | 201410302042.0 | 申请日: | 2014-06-27 |
公开(公告)号: | CN105206303B | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
发明(设计)人: | 王林 | 申请(专利权)人: | 展讯通信(上海)有限公司 |
主分类号: | G11C29/08 | 分类号: | G11C29/08 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 上海市浦东新区浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种存储器的测试装置和测试方法,所述存储器包括存储单元和与所述存储单元连接的位线,所述存储器的测试装置包括:比较单元,所述比较单元和位线一一对应连接,所述比较单元包括至少两个电流比较器,所述电流比较器的第一输入端连接位线,所述电流比较器的第二输入端适于输入基准电流,位于同一个比较单元中的电流比较器的第二输入端输入的基准电流值不相同。 | ||
搜索关键词: | 存储器 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种存储器的测试装置,所述存储器包括存储单元和与所述存储单元连接的位线,其特征在于,所述存储器的测试装置包括:比较单元,所述比较单元和位线一一对应连接,所述比较单元包括至少两个电流比较器,所述至少两个比较单元的结构相同,所述电流比较器的第一输入端连接位线,所述电流比较器的第二输入端适于输入基准电流,位于同一个比较单元中的电流比较器的第二输入端输入的基准电流值不相同,所述电流比较器根据位线上的电流值和基准电流之间的比较结果输出数字编码。
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