[发明专利]涂覆的切削工具有效

专利信息
申请号: 201410302791.3 申请日: 2014-06-27
公开(公告)号: CN104249165B 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 阿克·奥斯特伦;容尼·埃德曼;埃里克·林达尔;扬·恩奎斯特 申请(专利权)人: 山特维克知识产权股份有限公司
主分类号: B23B27/00 分类号: B23B27/00;C23C16/36;C23C16/40
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 张爽;郭国清
地址: 瑞典桑*** 国省代码: 瑞典;SE
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摘要: 一种涂覆的切削工具,其包含基材和涂层,其中所述涂层包含一个MTCVD TiCN层和一个α‑Al2O3层,其中所述α‑Al2O3层展示出使用CuKα辐射测量的X‑射线衍射图案,其中使用的(hkl)反射是(012),(104),(110),(113),(116),(300),(214)和(0012),和其中TC(0012)高于5,并且所述α‑Al2O3的(0012)面的摇摆曲线峰的半峰全宽小于30°。
搜索关键词: 切削 工具
【主权项】:
1.一种涂覆的切削工具,其包含基材和涂层,其中所述涂层包含:一个MTCVD TiCN层,和一个α‑Al2O3层,其中所述α‑Al2O3层展示出使用CuKα辐射和θ‑2θ扫描测量的X‑射线衍射图案,其中根据Harris公式确定织构系数TC(hkl)其中I(hkl)=所述(hkl)反射的测量强度(积分面积),I0(hkl)=根据ICDD的PDF卡号00‑010‑0173的标准强度,n=在计算中使用的反射的数量,使用的(hkl)反射是(012),(104),(110),(113),(116),(300),(214)和(0 0 12),其特征在于TC(0 0 12)高于5,和其中使用X‑射线衍射在所述切削工具的间隙面上测量,所述α‑Al2O3的(0 0 12)面的摇摆曲线峰的半峰全宽(FWHM)是小于30°的FWHM,和其中所述TiCN层展示出使用CuKα辐射测量的X‑射线衍射图案,其中在220峰的积分面积强度和311峰的积分面积强度之间的关系,I220/I311,为低于或等于0.4。
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