[发明专利]一种角反射器回光特性标定的装置及方法在审

专利信息
申请号: 201410306251.2 申请日: 2014-06-30
公开(公告)号: CN104062097A 公开(公告)日: 2014-09-24
发明(设计)人: 周艳;赵建科;刘峰;昌明;徐亮;王争锋 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 杨引雪
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种角反射器回光特性标定的装置及方法。该装置主要包括光源组件、半透半反镜、第一探测器组件、第二探测器组件和调整工装。为了增加飞行目标表面对信号的反射率,常采用角反射器阵列形式,理想状态是每个角反射器的回光效率都一致,这样便于探测器的选型,并且降低后续的数据处理难度。本发明可实现角反射器的回光效率和回光一致性同时测定以及测量精度高。
搜索关键词: 一种 反射 器回光 特性 标定 装置 方法
【主权项】:
一种角反射器回光特性标定的方法,其特征在于,包括以下步骤:1]对平行光束进行分束,分为两路光束,分别为参考光束和实际光束;直接测试参考光束的能量值,并记录为ξ1,实际光束经待测角反射器反射后测试能量值,并记录为ξ2;所述平行光束的直径小于等于角反射器有效口径,待测角反射器的光轴与平行光束的光轴重合;2]对待测角反射器的位置进行多维度调整,每调整一次后重新测量参考光束和实际光束的能量值,得到n组ξ1i和ξi2;3]通过多组ζ1i和ζi2,计算出n个回光效率η:计算回光一致性:<mrow><mi>&delta;</mi><mo>=</mo><mfrac><mrow><msub><mi>&eta;</mi><mi>max</mi></msub><mo>-</mo><msub><mi>&eta;</mi><mi>min</mi></msub></mrow><mover><mi>&eta;</mi><mo>&OverBar;</mo></mover></mfrac><mo>,</mo><mover><mi>&eta;</mi><mo>&OverBar;</mo></mover><mo>=</mo><mfrac><msub><mi>&Sigma;&eta;</mi><mn>1</mn></msub><mi>n</mi></mfrac><mo>;</mo></mrow>所述τ为修正系数。
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