[发明专利]一种测量高斯光束参数的方法有效

专利信息
申请号: 201410306892.8 申请日: 2014-07-01
公开(公告)号: CN104034435A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 王垚廷;李晋惠;李武军;张瑞红 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00;G01B11/00;G01B11/08
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 黄秦芳
地址: 710032 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种测量高斯光束参数的方法,克服现有技术无法高精度测量束腰参数的问题。本发明包括步骤:①将激光束衰减后作为待测高斯光束;②将薄透镜放置于待测高斯光束中,测量薄透镜后面高斯光束的束腰位置;③更换焦距不同的薄透镜,重复步骤②,测得该薄透镜后面高斯光束的束腰位置;④确定待测高斯光束的束腰位置和束腰半径,利用步骤②和③得到的两个束腰位置和对应的薄透镜焦距F1、F2计算得到待测高斯光束的束腰位置L0和束腰半径w0。本发明简单精确;适用广泛:可应用于束腰易分辨的测量中,也可用于测量非常小的束腰半径、近似平行的高斯光束束腰位置,更可测量束腰本身不能被仪器直接探测到的高斯光束的束腰尺寸及位置。
搜索关键词: 一种 测量 光束 参数 方法
【主权项】:
一种测量高斯光束参数的方法,其测量步骤依次包括:1)待测高斯光束:将激光束衰减后作为待测高斯光束;2)将薄透镜放置于待测高斯光束中,测量薄透镜后面高斯光束的束腰位置: CCD相机在薄透镜后面记录不同位置z处的光强分布,从光强分布可以得到光斑半径值w,因此可以得到薄透镜后面聚焦高斯光束中光束半径任意相同的两个位置z1、z2,将上述的参数代入(1)式中:为薄透镜后面聚焦高斯光束束腰位置;3)更换焦距不同的薄透镜,重复步骤2)的测量方法,测得该薄透镜后面聚焦高斯光束的束腰位置;4)确定待测高斯光束的束腰位置和束腰半径,将步骤(2)和(3)得到的两个聚焦高斯光束的束腰位置和对应的薄透镜焦距F1、F2代入(2)式中:l为高斯光束对应的光波波长,解该方程组即可得到待测高斯光束的束腰位置L0和束腰半径w0
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