[发明专利]半导体器件的导线焊接点强化方法有效

专利信息
申请号: 201410308014.X 申请日: 2014-06-30
公开(公告)号: CN104078374B 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 缪小勇;石海忠;陆蓉;郇林香;张希娟 申请(专利权)人: 南通富士通微电子股份有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)11435 代理人: 孟阿妮
地址: 226006 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种半导体器件的导线焊接点强化方法,在框架内引线的表面的焊接区焊接导线;在所述框架内引线与所述导线的焊接点处跨接压固件,使压固件的中部向框架内引线的一侧紧压导线,并将压固件位于导线两侧的部分与框架内引线进行焊接固定。通过在导线的焊接点处设置压固件,来将导线向框架内引线的一侧压紧。采用此结构改善了框架内引线正面跟包封塑封料之间的界面结合,在分层向导线焊接点延伸过程中,只有压固件的焊点因分层延伸而彻底剥离后才会继续向导线的焊接点延伸,故采用此结构可以预防和改善导线焊接点剥离。
搜索关键词: 半导体器件 导线 焊接 强化 方法
【主权项】:
一种半导体器件的导线焊接点强化方法,其特征在于,在框架内引线的表面的焊接区焊接导线;在所述框架内引线与所述导线的焊接点处跨接压固件,使所述压固件的中部向所述框架内引线的一侧紧压所述导线,并将所述压固件位于所述导线两侧的部分与所述框架内引线进行焊接固定;所述焊接点处跨设有至少两个压固件,两个所述压固件并排设置或交叉设置。
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