[发明专利]用于模数转换器的内建自测试有效
| 申请号： | 201410314146.3 | 申请日： | 2014-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN104283559B | 公开（公告）日： | 2018-02-06 |
| 发明（设计）人： | P.博格纳;J.梅杰里 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 张涛,徐红燕 |
| 地址： | 德国瑙伊比*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了用于模数转换器的内建自测试。一种具有内建自测试电路的半导体芯片，包括第一模数转换器（ADC），被配置为将在其输入处所接收到的模拟输入电压信号转换为表征所述第一ADC的数字输出电压信号；以及第二ADC，耦接到所述第一ADC的输入，并且被配置为将在其输入处所接收到的所述模拟输入电压信号转换为数字反馈电压信号，其中，基于数字反馈信号来生成所述模拟输入电压信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 转换器 测试 | ||
【主权项】：
一种具有内建自测试电路的半导体芯片，包括：第一模数转换器ADC，被配置为将在其输入处所接收到的模拟输入电压信号转换为表征所述第一模数转换器ADC的数字输出电压信号；以及第二模数转换器ADC，耦接到所述第一模数转换器ADC的输入，并且被配置为将在其输入处所接收到的所述模拟输入电压信号转换为数字反馈电压信号，其中，基于数字反馈电压信号来生成所述模拟输入电压信号，所述半导体芯片还包括：比较器，耦接到所述第二模数转换器ADC，并且被配置为：对来自所述第二模数转换器ADC的在其第一输入处所接收到的所述数字反馈电压信号与在其第二输入处所接收到的数字输入电压信号进行比较，并且输出比较信号，其中，基于所述比较信号来生成所述模拟输入电压信号。
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