[发明专利]预压力残存率的侦测方法有效
申请号: | 201410321819.8 | 申请日: | 2014-07-08 |
公开(公告)号: | CN105319235B | 公开(公告)日: | 2018-03-13 |
发明(设计)人: | 蔡孟勳;谢文馨;杨安石;袁伟翔;黄泓纬;刘崇庆;黄逸羣 | 申请(专利权)人: | 上银科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20;G01L5/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 中国台湾*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种预压力残存率的侦测方法,包含有下列步骤a.在可相对移动的二组件其中之一安装一温度传感器;b.使该二组件相对移动,同时记录该温度传感器所感测到的温度随时间的变化,进而得到一初始温升曲线;c.使该二组件相对移动,同时记录该温度传感器所感测到的温度随时间的变化,进而得到一侦测温升曲线;d.比较该初始温升曲线与该侦测温升曲线的差异,进而得到该二组件在该步骤c进行时相对于该步骤b进行时的预压力残存率;该侦测方法可在受测物运转时侦测其所受预压力的残存率,且成本低、使用寿命长、反应速度快、侦测结果较为准确。 | ||
搜索关键词: | 预压 残存 侦测 方法 | ||
【主权项】:
一种预压力残存率的侦测方法,包含有下列步骤:a.在可相对移动的二组件其中之一安装一温度传感器;b.使该二组件相对移动,同时记录该温度传感器所感测到的温度随时间的变化,进而得到一初始温升曲线;c.使该二组件相对移动,同时记录该温度传感器所感测到的温度随时间的变化,进而得到一侦测温升曲线;以及d.比较该初始温升曲线与该侦测温升曲线的差异,进而得到该二组件在该步骤c进行时相对于该步骤b进行时的预压力残存率,其中,该步骤b中利用该初始温升曲线取得一初始温升率,该步骤c中利用该侦测温升曲线取得一侦测温升率,该步骤d中的预压力残存率为该侦测温升率与该初始温升率的比值。
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