[发明专利]一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法有效
申请号: | 201410323960.1 | 申请日: | 2014-07-08 |
公开(公告)号: | CN104101430A | 公开(公告)日: | 2014-10-15 |
发明(设计)人: | 张雪静;景娟娟;周锦松;李雅灿;付锡禄;冯蕾;曾晓茹 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电研究院 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;郑哲 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法,通过采用钨灯与氙灯的组合作为光源,调整两种光源的亮度比例可以得到不同光谱特征的光源,弥补了仅由钨灯做光源时短波波段辐亮度低的不足;并在采集过程中,多次调节钨灯与氙灯的亮度比例,这种调节不需要精确的控制,只保证亮度比有所改变即可,因此可在短时间内完成,分别测试成像光谱仪的响应,并用标准光谱辐射度计进行监测,这种数据采集方式可提供多组光谱特征不同的数据,计算绝对辐射定标系数时便可以从中择优使用;最后,在计算绝对辐射定标系数时,从实验数据中选择成像光谱仪响应最高的一组,定标精度得到保证,计算过程全部由计算机完成,保证了计算效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 色散 成像 光谱仪 快速 绝对 辐射 定标 方法 | ||
【主权项】:
一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法,其特征在于,该方法包括:通过调整光源中钨灯氙灯的亮度的比例,再利用成像光谱仪来获得K组组合光源及其对应的测试信号DNc(i,j,k),并与暗噪声DN0(i,j)相减,获得每一组组合光源的响应信号值DN(i,j,k),再利用标准光谱辐射度计获得每一组组合光源的光谱辐亮度值W(λ,k);其中,i表示像元所在行序数,j表示像元所在列序数,λ表示波长,k=1,2,3,...,K;对于每一像元(i,j),查找K组组合光源的响应信号值中最高的一组DN(i,j,m)及其对应的光谱辐亮度值W(λ,m);根据所述光谱辐亮度值W(λ,m),利用线性插值法计算像元(i,j)的光谱响应中心波长λ(i,j)对应的辐亮度值W(λ(i,j),m),来作为像元(i,j)接收的标准辐射量值;将所述像元(i,j)接收的标准辐射量值W(λ(i,j),m)与响应信号值DN(i,j,m)相除获得像元(i,j)的绝对辐射定标系数c(i,j)。
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