[发明专利]测试芯片管脚连通性的电路有效
| 申请号： | 201410326192.5 | 申请日： | 2014-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN104090226B | 公开（公告）日： | 2017-01-18 |
| 发明（设计）人： | 杨修 | 申请（专利权）人： | 四川和芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610041 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试芯片管脚连通性的电路，其包括逻辑门子电路、选择子电路、N个输入管脚及M个输出管脚，N、M为大于或等于2的自然数，各个输入管脚均与逻辑门子电路连接，当外部激励输入至各个输入管脚时，各个输入管脚将外部激励输入至逻辑门子电路，当外部激励发生变化时，逻辑门子电路的输出信号随着相应变化，选择子电路的输入端分别和逻辑门子电路的输出端及芯片本体连接，选择子电路的输出端与各个输出管脚连接，选择子电路选择逻辑门子电路的输出信号输出至各个输出管脚。本发明的测试芯片管脚连通性的电路，结构简单，节省了芯片面积和制造成本，可快速地实现对芯片管脚连通性的测试，外部测试环境也得以简化，减小了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 芯片 管脚 连通性 电路 | ||
【主权项】：
一种测试芯片管脚连通性的电路，其特征在于，包括逻辑门子电路、选择子电路、N个输入管脚及M个输出管脚，N、M均为大于或等于2的自然数，各个所述输入管脚均与所述逻辑门子电路连接，当外部激励输入至各个所述输入管脚时，各个所述输入管脚将外部激励输入至所述逻辑门子电路，当外部激励发生变化时，所述逻辑门子电路的输出信号随着相应变化，所述选择子电路的输入端分别和所述逻辑门子电路的输出端及芯片本体连接，所述选择子电路的输出端与各个所述输出管脚连接，所述选择子电路选择所述逻辑门子电路的输出信号输出至各个所述输出管脚；所述选择子电路包括M个选择器，每个所述选择器的输入端分别和所述逻辑门子电路的输出端及芯片本体连接，每个所述选择器的输出端与对应的输出管脚连接。
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