[发明专利]场效应晶体管及形成场效应晶体管的方法有效

专利信息
申请号: 201410329243.X 申请日: 2014-07-11
公开(公告)号: CN105322004B 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: 黄奕泉 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L29/772 分类号: H01L29/772;H01L29/06;H01L21/335
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种场效应晶体管及形成场效应晶体管的方法。该场效应晶体管包含基底、隔离层、沟道、栅极、漏极及源极。基底具有主动区域,而主动区域的形状为至少一突出部突出于一方形。隔离层是形成于基底上且围绕主动区域。栅极横跨主动区域且形成于主动区域的中段上方。沟道是形成于栅极正下方的主动区域并延伸到至少一突出部,以将主动区域分隔为第一区间及第二区间。栅极横跨主动区域且形成于沟道的上方。漏极是形成于第一区间而源极是形成于第二区间。
搜索关键词: 场效应 晶体管 形成 方法
【主权项】:
一种场效应晶体管,其特征在于包含:基底,具有主动区域,该主动区域的形状为至少一突出部突出于一方形;隔离层,形成于该基底上且围绕该主动区域;栅极,横跨该主动区域且形成于该主动区域的中段上方;沟道,形成于该栅极正下方的该主动区域并延伸到该至少一突出部,以将该主动区域分隔为一第一区间及一第二区间;漏极,形成于该第一区间;及源极,形成于该第二区间。
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