[发明专利]一种双线阵CCD扫描成像测量光束质量的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201410329339.6 申请日: 2014-07-10
公开(公告)号: CN104062098A 公开(公告)日: 2014-09-24
发明(设计)人: 谭佐军;谢静;高贻钧;后德家;王贤峰 申请(专利权)人: 华中农业大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 武汉宇晨专利事务所 42001 代理人: 李鹏;王敏锋
地址: 430000 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种双线阵CCD扫描成像快速测量激光光束质量的装置,包括计算机、电控平移台、设置在电控平移台上的手动角位台和设置在手动角位台上的安装有被测激光器的电控旋转台,还包括以被测激光器为中心顺时针依次设置的第二线阵CCD、面阵CCD和第一线阵CCD,第一线阵CCD与被测激光器的距离为Z2大于第二线阵CCD与被测激光器的距离为Z1。还公开了一种双线阵CCD扫描成像快速测量激光光束质量的方法。本发明通过双线阵CCD快速地获取大尺寸线状长条(水平方向×垂直方向为90°×2°)的激光光束的能量分布,利用其能量分布对计算视野角角度、各视野方向相对强度分布、发散角、俯仰角等光束质量参数。
搜索关键词: 一种 双线 ccd 扫描 成像 测量 光束 质量 装置 方法
【主权项】:
一种双线阵CCD扫描成像测量光束质量的装置,包括计算机(10),其特征在于,还包括电控平移台(3)、设置在电控平移台(3)上的手动角位台(2)和设置在手动角位台(2)上的安装有被测激光器(14)的电控旋转台(1),还包括以被测激光器(14)为中心顺时针依次设置的第二线阵CCD(5)、面阵CCD(6)和第一线阵CCD(4),第一线阵CCD(4)与被测激光器(14)的距离为Z2大于第二线阵CCD(5)与被测激光器(14)的距离为Z1,还包括用于控制电控旋转台(1)进行旋转和用于控制电控平移台(3)平移的运动控制器(9),第一线阵CCD(4)和第二线阵CCD(5)均通过线阵CCD图像采集卡(12)与计算机(10)连接,面阵CCD(6)通过面阵CCD图像采集卡(11)与计算机(10)连接,计算机(10)与运动控制器(9)连接。
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