[发明专利]一种集成电路、验证方法及产生特征值调整码的方法有效
| 申请号： | 201410333632.X | 申请日： | 2014-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN105320581B | 公开（公告）日： | 2018-01-19 |
| 发明（设计）人： | 翁启舜;郭俊仪 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G11C29/12 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司72003 | 代理人： | 李昕巍,赵根喜 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种集成电路包括一内建自我测试电路、一预定特征值以及一只读存储器，其中该预定特征值预存于该集成电路中，该只读存储器储存有至少一有效信息以及一内建自我测试特征值调整码，该内建自我测试特征值调整码与该只读存储器中所储存的所有具有功能性的有效信息均不相关；其中该内建自我测试电路用于对该只读存储器中所储存的内容进行测试而产生一特征值，并将该特征值与该预定特征值相比对，以判断该只读存储器中所储存的内容是否有错误。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 验证 方法 产生 特征值 调整 | ||
【主权项】：
一种集成电路，包括：一内建自我测试电路；一预定特征值，预存于该集成电路中；以及一只读存储器，储存有至少一有效信息以及一内建自我测试特征值调整码，其中该内建自我测试特征值调整码与该只读存储器中所储存的所有具有功能性的有效信息均不相关；其中该内建自我测试电路会对该只读存储器中所储存的内容进行测试而产生一特征值，并将该特征值与该预定特征值相比对，以判断该只读存储器中所储存的内容是否有错误；其中该内建自我测试特征值调整码中至少有两部分分别储存在该只读存储器中不连续的地址。
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