[发明专利]硼酸中痕量无机杂质的测定方法有效
申请号: | 201410334703.8 | 申请日: | 2014-07-14 |
公开(公告)号: | CN105319203B | 公开(公告)日: | 2018-07-06 |
发明(设计)人: | 谢增春;万小红;朱刘 | 申请(专利权)人: | 广东先导稀材股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/73 | 分类号: | G01N21/73;G01N1/28 |
代理公司: | 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 | 代理人: | 张向琨 |
地址: | 511500 广东省清*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种硼酸中痕量无机杂质的测定方法。所述硼酸中痕量无机杂质的测定方法包括步骤:(1)称取一定质量的硼酸样品并置于PFA广口瓶中;(2)向PFA广口瓶中直接加入光谱纯甲醇试剂,并搅拌均匀;(3)将PFA广口瓶置于78℃~120℃恒温水浴下敞开加热45min~80min,待硼酸样品溶解后停止加热,得到硼酸样品溶液;(4)待硼酸样品溶液冷却后,将其定容至容量瓶;(5)采用电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP‑OES)分析定容后的硼酸样品溶液中的无机杂质元素的含量。本发明的硼酸中痕量无机杂质的测定方法能实现快速高效地测定硼酸中的痕量无机杂质,尤其适合对大批量的硼酸样品进行分析。 | ||
搜索关键词: | 硼酸样品 无机杂质 硼酸 痕量 广口瓶 定容 电感耦合等离子体发射光谱仪 恒温水浴 溶液冷却 停止加热 纯甲醇 容量瓶 称取 光谱 加热 溶解 分析 敞开 | ||
【主权项】:
1.一种硼酸中痕量无机杂质的测定方法,其特征在于,包括步骤:(1)称取一定质量的硼酸样品并置于PFA广口瓶中;(2)向PFA广口瓶中直接加入光谱纯甲醇试剂,并搅拌均匀;(3)将PFA广口瓶置于78℃~120℃恒温水浴下敞开加热45min~80min,待硼酸样品溶解后停止加热,得到硼酸样品溶液;(4)待硼酸样品溶液冷却后,将其定容至容量瓶;(5)采用电感耦合等离子体发射光谱仪ICP‑OES分析定容后的硼酸样品溶液中的无机杂质元素的含量。
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