[发明专利]单光子发射断层成像系统的几何刻度方法有效
| 申请号： | 201410348073.X | 申请日： | 2014-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN104173074A | 公开（公告）日： | 2014-12-03 |
| 发明（设计）人： | 魏清阳;刘亚强;王石;马天予;江年铭;刘迈 | 申请（专利权）人： | 北京辛耕普华医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 100084 北京市通州区中关村科*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种单光子发射断层成像系统的几何刻度方法，包括：对准直器进行测量以获得准直器上针孔或槽缝的几何参数；将准直器和PET探测器组装成单光子发射断层成像系统；控制准直器运动，以利用PET探测器测量准直器运动至多个目标位置时的多组本底符合事件；根据多组本底符合事件得到准直器在单光子发射断层成像系统中的位置坐标。根据本发明实施例的方法可以对单光子发射断层成像系统(即SPECT系统)的几何参数进行精确刻度，为断层成像的图像重建提供精确的几何参数，从而提高单光子发射断层成像系统的成像质量。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 发射 断层 成像 系统 几何 刻度 方法 | ||
【主权项】：
一种单光子发射断层成像系统的几何刻度方法，其特征在于，所述单光子发射断层成像系统包括PET探测器和准直器，所述方法包括以下步骤：对所述准直器进行测量以获得所述准直器上针孔或槽缝的几何参数；将所述准直器和所述PET探测器组装成所述单光子发射断层成像系统；控制所述准直器运动，以利用所述PET探测器测量所述准直器运动至多个目标位置时的多组本底符合事件；根据所述多组本底符合事件得到所述准直器在所述单光子发射断层成像系统中的位置坐标。
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