[发明专利]光学元件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201410349861.0 申请日: 2010-09-02
公开(公告)号: CN104076412A 公开(公告)日: 2014-10-01
发明(设计)人: 高桥秀俊;饭田文彦;木曾弘之;伊藤优;田泽洋志;西村良 申请(专利权)人: 迪睿合电子材料有限公司
主分类号: G02B1/11 分类号: G02B1/11
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 何欣亭;王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供可擦拭指纹等污渍的光学元件及其制造方法。具有防反射功能的光学元件包括:具有表面的基体以及以小于可见光波长的细微节距在基体的表面设置多个且由凸部或凹部组成的多个构造体,形成构造体的材料的弹性模量大于等于1MPa小于等于1200MPa,上述构造体的高宽比大于等于0.6小于等于1.5。
搜索关键词: 光学 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种具有防反射功能的光学元件,包括:    具有表面的基体;以及    以小于等于可见光的波长的细微节距在所述基体的表面配置多个且由凸部或凹部构成的多个构造体,    形成所述构造体的材料的弹性模量大于等于1MPa小于等于1200MPa,    所述构造体的高宽比大于等于0.6小于等于0.94,    所述构造体被配置成在所述基体的表面构成多列轨迹,且形成六边形格子图案、准六边形格子图案、四边形格子图案、准四边形格子图案中的任意一种,    这里,设同一轨迹内的构造体的配置节距为P1,邻接的两个轨道间的构造体的配置节距为P2时,当为四边形格子图案或准四边形格子图案的情况下满足1.4<P1/P2≤1.5,当为六边形格子图案或准六边形格子图案的情况下满足1.00<P1/P2≤1.1。
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