[发明专利]一种高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测用参考试块有效
申请号: | 201410349881.8 | 申请日: | 2014-07-22 |
公开(公告)号: | CN104122328B | 公开(公告)日: | 2018-08-21 |
发明(设计)人: | 张昕;李军;苗兴;袁芳;杨景健;高健;杨占君;李玉鹏;王斌;赵明忠;白涛;孙小平;席家福;王欣;董开松 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;国网甘肃省电力公司;国网甘肃省电力公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04 |
代理公司: | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人: | 姜万林 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测专用参考试块。试块采用φ1mm通孔与深度为3mm、4mm、5mm月牙槽作为检测系统调试人工缺陷反射体;具有仪器调试内部、表面及近表面同时显示,一次完成的优点;月牙槽反射体符合真实裂纹特征;不设置模拟瓷瓶弧面,通过实测表格进行弧度补偿,克服了在实际检测工作中多种规格瓷瓶需采用多种规格试块,分别进行仪器调整的缺点,大大提高了工作效率。本发明所述专用参考试块,可以解决目前高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测无专用参考试块的问。 | ||
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【主权项】:
1.一种高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测专用参考试块,其特征在于,采用φ1mm通孔和5mm深月牙槽人工反射体作为检测基准灵敏度调整依据;所述试块分为Ⅰ区、Ⅱ区和Ⅲ区三个区域,在试块Ⅰ区设置8个φ1mm通孔,声束从试块本体上下两面分别入射,距探测面垂直深度范围为30‑180mm,间距10mm;用于超声相控阵纵波检测瓷瓶内部缺陷时检测灵敏度调整和DAC曲线制作;在试块Ⅰ区上、下两检测面分别设置一个模拟裂纹的月牙槽,槽长度30mm,宽度为0.4±0.02mm,最大深度5±0.02mm;作为表面及近表面缺陷检测灵敏度调整和DAC曲线制作时的参考反射体;试块Ⅱ区9个φ1mm通孔用于相控阵检测角度补偿验证测试,也作为现场临时角度补偿曲线制作依据;试块Ⅲ区设置2个月牙槽,规格分别为槽宽度为0.4±0.02mm,最大深度分别为3±0.02mm和4±0.02mm,作为检测时的实际表面及近表面缺陷反射对比依据;也起到检测系统表面缺陷最大检测灵敏度验证作用。
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