[发明专利]一种抗串扰倒U型埋层光电二极管及生成方法有效
申请号: | 201410353580.2 | 申请日: | 2014-07-23 |
公开(公告)号: | CN104112782B | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 曹琛;李炘;张冰;吴龙胜;王俊峰 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/18;H01L21/265 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 710068 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种抗串扰倒U型埋层光电二极管及生成方法,能够保证在不损耗感光区填充因子的条件下,降低相邻像素单元之间较长波段光激发的载流子因扩散机制而产生的电荷串扰率,并提升满阱能力、量子效率等关键指标,本发明包括P型外延层上部设置的表面P+钳位层,表面P+钳位层下部设置有初始N型感光区,初始N型感光区下方设置有两层环形的P型轻掺杂埋层,P型轻掺杂埋层环形内部设置有二次N型感光埋层;建立了由P型轻掺杂埋层指向P型外延层的内建电场,使产生于外延层及衬底中较长波段入射光激发的载流子受到内建电场力的作用向顶层感光N埋层漂移并被收集,阻止了电荷的横向扩散,电荷串扰现象得到抑制。 | ||
搜索关键词: | 一种 抗串扰倒 型埋层 光电二极管 生成 方法 | ||
【主权项】:
一种抗串扰倒U型埋层光电二极管的生成方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一:在P型外延层(130)内注入砷离子形成初始N型感光区(110);步骤二:在初始N型感光区(110)上的注入硼离子形成P+钳位层(100);步骤三:在初始N型感光区(110)下方与外延层交界处的周围使用LP光刻掩膜板(520)注入比砷离子投影射程长的N型杂质离子,形成LP1区域(320),注入剂量范围为2×1011cm‑2~3×1011cm‑2,注入能量范围为650keV~850keV;步骤四:在LP1区域(320)下方注入比砷离子投影射程长的N型杂质离子,形成LP2区域(321),LP1区域(320)与LP2区域(321)形成纵向环形P型轻掺杂埋层,并产生内建电场,注入剂量范围为2×1011cm‑2~3×1011cm‑2,注入能量范围为1300keV~1600keV;步骤五:使用Sn光刻掩膜板将砷离子(411)注入P型轻掺杂埋层环形内部,形成二次N型感光埋层(410),二次N型感光埋层(410)与P型轻掺杂埋层产生侧壁寄生电容(420),最终形成抗串扰倒U型埋层光电二极管。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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