[发明专利]一种光纤宏弯衰减测试的装置及方法在审

专利信息
申请号: 201410356971.X 申请日: 2014-07-24
公开(公告)号: CN104089759A 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 高安敏;顾志华;庄云锋;盛佳慧;徐美芳;张磊 申请(专利权)人: 江苏亨通光电股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 215200 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种光纤宏弯衰减测试的装置,其使得光纤缠绕时易固定、缠绕圈数均匀控制,也节约单次测试时光纤缠绕总圈数清点的时间、确保光纤缠绕总圈的准确度,确保光纤宏弯衰减测试的高效率及测试准确性。其包括底座,所述底座上布置有绕线柱,其特征在于:其还包括上板座,所述上板座的下端面通过直线滑动结构支承于所述底座的上端面,所述上板座的前后端宽度小于所述底座的前后端宽度,所述底座的上端面的前端位置排布有等径的第一绕线柱,所述第一绕线柱的下端通过第一连接杆布置于所述底座的上端面,所述第一绕线柱沿着所述底座的长度方向直线布置;相邻的所述第一绕线柱间留有间距,所述上板座的上端面排布有等径的第二绕线柱。
搜索关键词: 一种 光纤 衰减 测试 装置 方法
【主权项】:
一种光纤宏弯衰减测试的装置,其技术方案是这样的:其包括底座,所述底座上布置有绕线柱,其特征在于:其还包括上板座,所述上板座的下端面通过直线滑动结构支承于所述底座的上端面,所述上板座的前后端宽度小于所述底座的前后端宽度,所述底座的上端面的前端位置排布有等径的第一绕线柱,所述第一绕线柱的下端通过第一连接杆布置于所述底座的上端面,所述第一绕线柱沿着所述底座的长度方向直线布置;相邻的所述第一绕线柱间留有间距,所述上板座的上端面排布有等径的第二绕线柱,所述第二绕线柱的下端通过第二连接杆布置于所述上板座的上端面,所述第二绕线柱沿着所述底座的长度方向直线布置,相邻的所述第二绕线柱间留有间距,所述第一绕线柱、第二绕线柱的直径相同,工作状态下的第二绕线柱、第一绕线柱相互潜入各自相邻的绕线柱的间距内且对应的圆心排成一直线。
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