[发明专利]一种增强型AlGaN/GaN异质结场效应晶体管有效

专利信息
申请号: 201410369694.6 申请日: 2014-07-30
公开(公告)号: CN104167440B 公开(公告)日: 2017-08-25
发明(设计)人: 段宝兴;袁嵩;杨银堂 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/423;H01L29/417
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司61211 代理人: 胡乐
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种增强型AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管。这种新结构是在晶体管2DEG所在的高阻GaN层的源端到栅电极部分使用P型掺杂的GaN,于是在栅压为零时,由于P型GaN与2DEG界面处势垒的阻挡作用使得电子无法到达源电极实现器件导通,器件处于关断状态;当栅极加正电压时,栅极下的2DEG浓度提高,使其能带高度下降,随着电压进一步增大,2DEG能带高度进一步下降,2DEG与P型GaN的势垒厚度也不断减小,直到在漏源电压的作用下发生遂穿,实现器件导通。
搜索关键词: 一种 增强 algan gan 异质结 场效应 晶体管
【主权项】:
一种增强型AlGaN/GaN异质结场效应晶体管,包括半绝缘衬底、缓冲层、GaN层、AlGaN层、源极、栅极以及漏极,AlGaN与GaN界面处形成很薄的2DEG;源极和漏极均通过欧姆接触与GaN层、AlGaN层相连;其特征在于:所述GaN层在靠近电极一侧有一部分区域为P型掺杂GaN,对应于自源极至部分栅极所覆盖的区域,P型掺杂GaN与2DEG为直接接触,满足在栅压为零时P型掺杂GaN与2DEG界面处势垒的阻挡作用使器件关断,在栅极加电正压时遂穿导通。
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