[发明专利]一种用于CMOS图像传感器的暗电平校正的算法及其系统有效
申请号: | 201410374461.5 | 申请日: | 2014-07-31 |
公开(公告)号: | CN104333717B | 公开(公告)日: | 2017-07-07 |
发明(设计)人: | 谷元保;姚洪涛 | 申请(专利权)人: | 吉林省福斯匹克科技有限责任公司 |
主分类号: | H04N5/361 | 分类号: | H04N5/361 |
代理公司: | 北京市盛峰律师事务所11337 | 代理人: | 于国富 |
地址: | 130000 吉林省长春市朝阳区*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明是一种用于CMOS图像传感器的暗电平校正算法及其系统,该算法包括S1、后台系统设定暗电平上限和输出数据偏移量;S2、输入带有暗电平信息行的图像;S3、用中值滤波算法校正暗电平信息行的缺陷像素;S4、计算滤波校正后暗电平信息行各像素通道的平均暗电平;S5、调整输出数据偏移量;S6、对输入图像数据进行暗电平校正;S7、输出正常图像。该系统包括缺陷像素校正模块、校正信息计算模块和暗电平校正模块,所述校正信息计算模块包括平均暗电平计算模块和数据输出偏移量调整模块。本发明可以更好地进行暗电平校正,误差小,解决了在四个颜色通道的暗电平差异比较大的情况下出现的颜色偏差问题和亮度不饱和问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 cmos 图像传感器 电平 校正 算法 及其 系统 | ||
【主权项】:
一种用于CMOS图像传感器的暗电平校正的算法,其特征在于,该算法包括:S1、后台系统设定暗电平上限和输出数据偏移量;S2、输入带有暗电平信息行的图像;S3、用中值滤波算法校正暗电平信息行的缺陷像素;S4、计算滤波校正后暗电平信息行各像素通道的平均暗电平;S5、调整输出数据偏移量;S6、对输入图像数据进行暗电平校正;S7、输出正常图像;步骤S5中所述调整输出数据偏移量,采用下述公式(1):Offset′=Offset;DC_Max<DC_LimOffset+DC_Max-DC_Lim;DC_Max≥DC_LimDC_Max=MAX(DC_Avg0,DC_Avg1,......,DC_Avgn)---(1)]]>式(1)中,Offset′是调整后的输出数据偏移量;Offset是输出数据偏移量;DC_Max是各像素通道平均暗电平中的最大平均暗电平;DC_Lim是暗电平上限;设定:DC_Avg0,DC_Avg1,……,DC_Avgn=DC_Avgi,i=0,1……,n,DC_Avgi是i通道的平均暗电平,i为CMOS图像传感器各像素通道中的任意一个;n是像素通道个数。
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