[发明专利]内封测量光纤的超导带材及其制备方法、装置

摘要

本发明提供了一种内封测量光纤的超导带材，包括上保护层、下保护层、超导带层以及测量光纤，所述超导带层和测量光纤封装在上保护层和下保护层之间，所述测量光纤沿长度方向设置。所述测量光纤采用若干长光纤连续地封装在上保护层和下保护层之间，或，多根短光纤间断地封装在上保护层和下保护层之间。同时还提供了上述超导带材的制备方法和制备装置，本发明可以对超导线圈内部所有位置的温度进行实时测量，无论局部失超的发生在何处，都可以及时发现；大大简化了超导线圈的绕制工艺，提高线圈了紧密性和光滑性，这对那些对磁场均匀度要求很高的高性能磁体意义非凡，极大地提高设备性能。

主权项

一种内封测量光纤的超导带材的制备方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，将上保护层、超导带层、测量光纤以及下保护层依照位置关系放置，形成超导带材原料带；步骤2，将步骤1中得到的超导带材原料带输入装有熔融状态焊锡的制备装置中，此时，超导带材原料带的外表面形成镀锡焊层；步骤3，外表面形成镀锡焊层的超导带材原料带沿长度方向输出制备装置，形成内封测量光纤的超导带材；所述内封测量光纤的超导带材，包括上保护层、下保护层、超导带层以及测量光纤，所述超导带层和测量光纤封装在上保护层和下保护层之间，所述测量光纤沿长度方向设置；所述测量光纤采用如下任一种设置方式：‑测量光纤包括第一光纤，若干第一光纤连续地封装在上保护层和下保护层之间；‑测量光纤包括第二光纤，多根第二光纤间断地封装在上保护层和下保护层之间。