[发明专利]一种单晶氮化镓生长所需的缓冲层的形成方法有效
申请号: | 201410382393.7 | 申请日: | 2014-08-06 |
公开(公告)号: | CN104143594A | 公开(公告)日: | 2014-11-12 |
发明(设计)人: | 金施耐;许桢;金东植 | 申请(专利权)人: | 上海世山科技有限公司;上海正帆科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L21/20 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 翁若莹 |
地址: | 201108 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种单晶氮化镓生长所需的缓冲层的形成方法。所述方法为:HVPE法在蓝宝石基板上生长GaN单结晶膜:包括生长第一缓冲层的阶段,第二缓冲层的阶段,第三缓冲层的阶段;蓝宝石基板经HCI处理后,GaN单结晶膜形成拥有纳米多孔型结构的GaN薄膜缓冲层,并且在纳米多孔型结构的GaN薄膜缓冲层上再依次生长第一缓冲层、第二缓冲层、第三缓冲层,生长出垂直型GaN结晶,即得GaN单结晶基板。本发明通过HVPE设备内的In-situ过程,容易地形成纳米多孔性结构和GaN生长过程,所以可以减少单结晶GaN基板制作时间和费用;纳米多孔型缓冲层厚度可达300μm。 | ||
搜索关键词: | 一种 氮化 生长 缓冲 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种单晶氮化镓生长所需的缓冲层的形成方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1):按照HVPE法在蓝宝石基板上生长GaN单结晶膜:包括生长第一缓冲层的阶段,第二缓冲层的阶段,第三缓冲层的阶段;步骤2):步骤1)制得的蓝宝石基板经HCI处理后,GaN单结晶膜形成拥有纳米多孔型结构的GaN薄膜缓冲层,并且在纳米多孔型结构的GaN薄膜缓冲层上再依次生长第一缓冲层、第二缓冲层、第三缓冲层,生长出垂直型GaN结晶,即得GaN单结晶基板。
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