[发明专利]一种安全芯片掉电测试设备

摘要

本发明公开了一种安全芯片掉电测试设备，包括：主控模块、开关模块、芯片插卡槽，所述主控模块通过USB接口与上位机进行通信，接收所述上位机的掉电指令，并对所述掉电指令进行解析得到掉电控制信号；所述主控模块通过所述开关模块将所述掉电控制信号传输到所述芯片插卡槽的待测芯片，控制所述待测芯片进行掉电。本发明的安全芯片掉电测试设备，通过单片机控制双向转换芯片上下电，延时时间短，时间精确；既支持7816接口芯片测试，也支持SPI接口芯片测试，应用范围广；通过APDU命令控制掉电，掉电起始点设置方式多，使用灵活，测试更全面。

主权项

1.一种安全芯片掉电测试设备，其特征在于，包括：主控模块、开关模块、芯片插卡槽，所述主控模块通过USB接口与上位机进行通信，接收所述上位机的掉电指令，并对所述掉电指令进行解析得到掉电控制信号；所述主控模块通过所述开关模块将所述掉电控制信号传输到所述芯片插卡槽的待测芯片，所述掉电控制信号控制所述开关模块从而控制所述待测芯片进行掉电，其中待测芯片进行正确上电，向该待测芯片发送测试APDU命令，在发送完测试APDU后，在某个不确定的时间进行突然掉电，掉电结束后，重新对待测芯片进行上电，发送校验APDU命令对芯片进行验证，分析该待测芯片内部数据是否被改写，并且所述安全芯片掉电测试设备的掉电起始点包括以下4种选择：起点1：开始发送APDU命令时；起点2：发送APDU命令结束后；起点3：在开始发送数据后，如果掉电的APDU命令没有数据发送，起点3将自动被默认为起点2；和起点4：数据发送结束后，如果掉电的APDU命令没有数据发送，起点4将自动被默认为起点2。