[发明专利]一种背沟道刻蚀型薄膜晶体管及其制备方法有效
申请号: | 201410385273.2 | 申请日: | 2014-08-06 |
公开(公告)号: | CN104157699B | 公开(公告)日: | 2019-02-01 |
发明(设计)人: | 张盛东;肖祥;邵阳;邓伟;王国英;宋振;贺鑫 | 申请(专利权)人: | 北京大学深圳研究生院 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L21/336;H01L21/28 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 徐宁;孙楠 |
地址: | 518055 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种背沟道刻蚀型薄膜晶体管及其制备方法,其特征在于:采用本发明的制备方法制备的背沟道刻蚀型薄膜晶体管包括衬底、栅电极、栅介质层、有源区、源区、漏区、钝化层、源区接触电极和漏区接触电极;栅电极设置在衬底上,栅介质层覆盖在衬底和栅电极上,有源区设置在栅介质层上,源区和漏区均位于有源区及栅介质层上,并分别设置在有源区两侧,钝化层覆盖在衬底、栅介质层、有源区、源区和漏区上,源区接触电极的一端连接源区,源区接触电极的另一端位于钝化层上,漏区接触电极的一端连接漏区,漏区接触电极的另一端位于钝化层上。本发明可以广泛应用于薄膜晶体管及显示面板的制备过程中。 | ||
搜索关键词: | 一种 沟道 刻蚀 薄膜晶体管 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种背沟道刻蚀型薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,所述背沟道刻蚀型薄膜晶体管包括衬底、栅电极、栅介质层、有源区、源区、漏区、钝化层、源区接触电极和漏区接触电极;所述栅电极设置在所述衬底上,所述栅介质层覆盖在所述衬底和栅电极上,所述有源区设置在所述栅介质层上,所述源区和漏区均位于所述有源区及栅介质层上,并分别设置在所述有源区两侧,所述钝化层覆盖在所述衬底、栅介质层、有源区、源区和漏区上,所述源区接触电极的一端连接所述源区,所述源区接触电极的另一端位于所述钝化层上,所述漏区接触电极的一端连接所述漏区,所述漏区接触电极的另一端位于所述钝化层上;所述衬底采用刚性材料或柔性材料;刚性材料采用刚性玻璃和硅片中的一种;柔性材料采用聚萘二甲酸乙二醇酯、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚酰亚胺中和柔性玻璃的一种;所述栅介质层采用氧化硅、氮化硅、氧化铝、氧化铪、氧化钽、氧化锆和有机介质中的一种或多种构成,所述栅介质层的厚度为5nm~400nm;所述制备方法包括以下步骤:1)在衬底上淀积一栅极导电层;当衬底采用柔性衬底时,在衬底与栅极导电层之间沉积一缓冲层;2)在栅极导电层上旋涂光刻胶,通过光刻及刻蚀工艺将栅极导电层图形化为栅电极;去除光刻胶并清洗衬底及栅电极;3)在衬底和栅电极上淀积一栅介质层;4)在栅介质层上淀积一有源区,在有源区上旋涂光刻胶,并通过光刻及刻蚀工艺将有源区图形化,去除光刻胶并清洗衬底及有源区;该有源区为IGZO;5)在有源区上淀积一铝/铝合金层;6)在铝/铝合金层上旋涂光刻胶并光刻;7)将通过步骤1)~步骤6)制备的器件放置在刻蚀液中,采用刻蚀液刻蚀铝/铝合金层形成源区和漏区;去除光刻胶并清洗衬底、源区和漏区;采用显影液作为刻蚀液刻蚀铝/铝合金层;在刻蚀铝/铝合金层之后、去除光刻胶之前,采用一氧化二氮等离子体或氧等离子体或臭氧等离子体处理有源区;8)在衬底、栅电极、栅介质、有源区、源区和漏区的表面淀积一层钝化层;在钝化层表面旋涂光刻胶,采用光刻和刻蚀工艺对钝化层进行处理,形成源区接触孔和漏区接触孔;去除光刻胶并清洗衬底及钝化层;9)在钝化层上、源区接触孔和漏区接触孔内均淀积导电层;在导电层表面旋涂光刻胶,采用光刻和刻蚀工艺对导电层进行处理,形成源区接触电极和漏区接触电极;去除光刻胶并清洗衬底及源区接触电极和漏区接触电极;10)对通过步骤1)~步骤9)制备的器件进行退火处理。
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