[发明专利]三维存储器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201410404550.X 申请日: 2014-08-15
公开(公告)号: CN104157654B 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 霍宗亮;刘明;靳磊 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115
代理公司: 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙)11345 代理人: 陈红
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种三维存储器制造方法,包括步骤在衬底上形成第一材料层与第二材料层的堆叠结构;刻蚀堆叠结构露出衬底,形成垂直的多个第一开孔;在每个第一开孔中形成填充层;在每个第一开孔周围,刻蚀堆叠结构露出衬底,形成垂直的多个第二开孔;在每个第二开孔中形成垂直的沟道层和漏极;选择性刻蚀去除填充层,重新露出第一开孔;侧向刻蚀部分或者完全去除第二材料层,留下凹槽;在凹槽中形成栅极堆叠结构;在每个第一开孔底部的衬底上和/或中形成共源极。依照本发明的三维存储器制造方法,将TCAT三维器件的字线深槽替换为深孔刻蚀来完成相同的功能,提高集成密度,简化堆叠结构的刻蚀工艺,保留了金属栅控制性能。
搜索关键词: 三维 存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种三维存储器制造方法,包括步骤:在衬底上形成第一材料层与第二材料层的堆叠结构;刻蚀堆叠结构露出衬底,形成垂直的多个第一开孔;在每个第一开孔中形成填充层;在每个第一开孔周围,刻蚀堆叠结构露出衬底,形成垂直的多个第二开孔;在每个第二开孔中形成垂直的沟道层和漏极;选择性刻蚀去除填充层,重新露出第一开孔;侧向刻蚀部分或者完全去除第二材料层,留下凹槽;在凹槽中形成栅极堆叠结构;在每个第一开孔底部的衬底上和/或中形成共源极。
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