[发明专利]一种CMOS图像传感器的制造方法在审

专利信息
申请号: 201410404715.3 申请日: 2014-08-15
公开(公告)号: CN104157661A 公开(公告)日: 2014-11-19
发明(设计)人: 陈多金;旷章曲;陈杰;刘志碧 申请(专利权)人: 北京思比科微电子技术股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;赵镇勇
地址: 100085 北京市海*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种CMOS图像传感器的制作方法,CMOS图像传感器包括基底及位于基底上方的像素单元和逻辑电路,像素单元包括光电二极管、浅槽隔离区,光电二极管与浅槽隔离区之间设有P型注入层。浅槽隔离区、P型注入层和光电二极管的形成采用一层像素专用掩膜版实现,且像素专用掩膜版只用到一次,像素单元的其它部分的形成共用逻辑电路的掩膜版;采用自对准注入工艺对光电二极管的表面进行P型杂质注入,形成表面掩蔽层。大大精简了像素所用掩膜版,在不牺牲像素性能的前提下大大缩减了制造成本。
搜索关键词: 一种 cmos 图像传感器 制造 方法
【主权项】:
一种CMOS图像传感器的制作方法,所述CMOS图像传感器包括基底及位于基底上方的像素单元和逻辑电路,其特征在于,所述像素单元包括光电二极管、浅槽隔离区,所述光电二极管与浅槽隔离区之间设有P型注入层,所述制作方法包括步骤:在所述基底上设置P型掩埋层,并在该P型掩埋层上设置所述像素单元和逻辑电路;进行所述浅槽隔离区的腐蚀以及所述P型注入层的注入和所述光电二极管的注入,所述浅槽隔离区、P型注入层和光电二极管的形成采用一层像素专用掩膜版实现,且所述像素专用掩膜版只用到一次,所述像素单元的其它部分的形成共用所述逻辑电路的掩膜版;采用自对准注入工艺对所述光电二极管的表面进行P型杂质注入,形成表面掩蔽层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京思比科微电子技术股份有限公司,未经北京思比科微电子技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410404715.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top