[发明专利]鳍状场效晶体管元件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201410405794.X 申请日: 2014-08-18
公开(公告)号: CN105355658A 公开(公告)日: 2016-02-24
发明(设计)人: 吴彦良;张仲甫;洪裕祥;傅思逸;沈文骏;吕曼绫;刘家荣;陈意维 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336;H01L29/423;H01L21/28
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种鳍状场效晶体管元件及其制造方法,该制造方法包含以下步骤:提供一基材,其基材表面具有鳍状结构;在基材上形成氧化层;移除部分氧化层,用以露出部分的鳍状结构,同时形成至少一浅沟槽隔离结构;在鳍状结构的露出部分两侧形成一对间隙壁;移除部分鳍状结构用以于间隙壁间形成一凹槽,并同时移除部分未被间隙壁覆盖的浅沟槽隔离结构;在凹槽中形成外延鳍状结构;移除间隙壁;以及于外延鳍状结构上形成栅极结构,使其延伸方向垂直于外延鳍状结构的延伸方向。本发明另提供一种鳍状场效晶体管元件。
搜索关键词: 鳍状场效 晶体管 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种鳍状场效晶体管元件制造方法,其包括以下步骤:提供一基材,该基材表面上具有一鳍状结构;在该基材上形成一氧化层;移除部分该氧化层,用以露出部分的该鳍状结构,同时形成至少一浅沟槽隔离结构;在该鳍状结构的露出部分两侧形成一对间隙壁;移除部分该鳍状结构用以于该对间隙壁间形成一凹槽,并同时移除部分未被间隙壁覆盖的该浅沟槽隔离结构;在该凹槽中形成一外延鳍状结构;移除该对间隙壁;以及在该外延鳍状结构上形成一栅极结构,使其延伸方向垂直于该外延鳍状结构的延伸方向。
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