[发明专利]一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法及系统有效
| 申请号： | 201410407300.1 | 申请日： | 2014-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN104198846B | 公开（公告）日： | 2017-03-22 |
| 发明（设计）人： | 李坤然 | 申请（专利权）人： | 广东大普通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人： | 胡彬,路凯 |
| 地址： | 523808 广东省东莞市松山湖科技*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法及系统。所述方法包括按照配置的老化特性测试参数启动晶振测量单元；按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号以采集待测晶体振荡器在对应时间点的频率；接收晶振测量单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率；当确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成时，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性。通过本发明的技术方案，能够使晶体振荡器的老化特性测试过程自动完成，具有减少人力投入，减少测量误差、极大提高了测量效率的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体振荡器 老化 特性 自动 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，包括：按照配置的老化特性测试参数启动晶振测量单元，以监控待测晶体振荡器；按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号以采集待测晶体振荡器在对应时间点的频率；接收晶振测量单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率；当确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成时，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性；所述对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性具体包括:分别计算各频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值；根据所述频率差值、对应的采集时间得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线；其中，以采集时间作为X轴，以频率差值作为Y轴；根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性；所述根据所述频率差值、对应的采集时间得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线具体包括：对所述频率差值组成的数据集进行移动平均滤波处理，以滤掉噪声数据；根据滤波之后的频率差值数据集、对应的采集时间点得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线。
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