[发明专利]一种利用铍的超级卤素负离子进行加速器质谱测量的方法有效

专利信息
申请号: 201410417510.9 申请日: 2014-08-22
公开(公告)号: CN104181223A 公开(公告)日: 2014-12-03
发明(设计)人: 付云翀;张丽;赵国庆;刘起;武振坤 申请(专利权)人: 中国科学院地球环境研究所
主分类号: G01N27/64 分类号: G01N27/64
代理公司: 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 代理人: 郭官厚
地址: 710061*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种利用铍的超级卤素负离子进行加速器质谱测量的方法,其特征在于,包括以下步骤:制备能够产出超级卤素负离子BeF3-的靶样品;轰击靶样品与PbF2粉末混合靶锥产生BeF3-束流;BeF3-束流在串列加速器中被击碎;经过主分析磁铁后9Be2+进入可移动法拉第杯进行测量,10Be2+沿主束线通过;10Be2+直接通过主静电分析器和高能端第二块磁铁,最终进入气体探测器进行分析。本发明的有益之处在于:以BeF3-作为10Be-AMS测量的引出束流,在引出阶段即有效抑制了10B的干扰,使得在小型AMS高能端无需再使用降能膜二次剥离,致使10Be束流的传输效率得到了保证(高能端达100%传输),且无膜后维持了原有较好的束流品质;有效避免了BeO作为气载尘埃存在很高毒性对实验人员带来的风险。
搜索关键词: 一种 利用 超级 卤素 负离子 进行 加速器 测量 方法
【主权项】:
一种利用铍的超级卤素负离子进行加速器质谱测量的方法,其特征在于,包括以下步骤:(一)制备能够产出超级卤素负离子BeF3‑的靶样品;(二)向制备得到的靶样品中混入PbF2粉末,然后填装入AMS测量用靶锥,在离子源中用Cs+离子持续轰击所述靶锥产生BeF3‑束流;(三)由离子源引出BeF3‑束流,然后BeF3‑束流通过低能端的静电分析器做初次能量筛选,接下来进入跳跃磁铁,再将BeF3‑束流由低能端注入串列加速器,在所述串列加速器中剥离气体将分子离子击碎、10Be2+被加速至能量为5.97MeV,9Be2+被加速至能量为5.94MeV;(四)10Be2+和9Be2+在高能端通过主分析磁铁,然后9Be2+进入可移动法拉第杯进行测量,10Be2+沿主束线通过;(五)10Be2+沿主束线通过后直接通过主静电分析器和高能端第二块磁铁,最终进入气体探测器进行分析。
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