[发明专利]一种楔形硅结构阵列的制作方法有效
申请号: | 201410421996.3 | 申请日: | 2014-08-25 |
公开(公告)号: | CN105366631B | 公开(公告)日: | 2017-03-15 |
发明(设计)人: | 俞骁;曾春红;张宝顺 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司44304 | 代理人: | 孙伟峰,武岑飞 |
地址: | 215123 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种楔形硅结构阵列的制作方法,包括步骤A)在衬底上键合形成预定厚度的硅层;B)在所述预定厚度的硅层上形成多个掩膜条;C)将所述硅层的未被所述掩膜条覆盖的部分去除,其中,所述硅层的被所述掩膜条覆盖的部分的截面形状为梯形形状;D)将所述掩膜条去除,以将所述硅层的被所述掩膜条覆盖的部分暴露;E)在步骤D)中暴露的所述硅层的侧斜壁上涂布多个光刻胶;F)将步骤E)中未被所述光刻胶覆盖的硅层去除;G)将步骤E)中涂布的所述光刻胶去除,从而形成阵列排布的楔形硅结构。本发明的楔形硅结构阵列的制作方法,工艺简单,成品率高,适合大批量制造的特点,并且所制备的楔形硅结构强度高,使用寿命长。 | ||
搜索关键词: | 一种 楔形 结构 阵列 制作方法 | ||
【主权项】:
一种楔形硅结构阵列的制作方法,其特征在于,包括步骤:A)在衬底上键合形成预定厚度的硅层;B)在所述预定厚度的硅层上形成多个掩膜条;C)将所述硅层的未被所述掩膜条覆盖的部分去除;D)将所述掩膜条去除,以将所述硅层的被所述掩膜条覆盖的部分暴露;E)在步骤D)中暴露的所述硅层的侧斜壁上涂布多个光刻胶;F)将步骤E)中未被所述光刻胶覆盖的硅层去除;G)将步骤E)中涂布的所述光刻胶去除,从而形成阵列排布的楔形硅结构。
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