[发明专利]一种楔形硅结构阵列的制作方法有效

专利信息
申请号: 201410421996.3 申请日: 2014-08-25
公开(公告)号: CN105366631B 公开(公告)日: 2017-03-15
发明(设计)人: 俞骁;曾春红;张宝顺 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司44304 代理人: 孙伟峰,武岑飞
地址: 215123 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种楔形硅结构阵列的制作方法,包括步骤A)在衬底上键合形成预定厚度的硅层;B)在所述预定厚度的硅层上形成多个掩膜条;C)将所述硅层的未被所述掩膜条覆盖的部分去除,其中,所述硅层的被所述掩膜条覆盖的部分的截面形状为梯形形状;D)将所述掩膜条去除,以将所述硅层的被所述掩膜条覆盖的部分暴露;E)在步骤D)中暴露的所述硅层的侧斜壁上涂布多个光刻胶;F)将步骤E)中未被所述光刻胶覆盖的硅层去除;G)将步骤E)中涂布的所述光刻胶去除,从而形成阵列排布的楔形硅结构。本发明的楔形硅结构阵列的制作方法,工艺简单,成品率高,适合大批量制造的特点,并且所制备的楔形硅结构强度高,使用寿命长。
搜索关键词: 一种 楔形 结构 阵列 制作方法
【主权项】:
一种楔形硅结构阵列的制作方法,其特征在于,包括步骤:A)在衬底上键合形成预定厚度的硅层;B)在所述预定厚度的硅层上形成多个掩膜条;C)将所述硅层的未被所述掩膜条覆盖的部分去除;D)将所述掩膜条去除,以将所述硅层的被所述掩膜条覆盖的部分暴露;E)在步骤D)中暴露的所述硅层的侧斜壁上涂布多个光刻胶;F)将步骤E)中未被所述光刻胶覆盖的硅层去除;G)将步骤E)中涂布的所述光刻胶去除,从而形成阵列排布的楔形硅结构。
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