[发明专利]一种电子器件散热异常的检测方法及装置有效
申请号: | 201410427273.4 | 申请日: | 2014-08-27 |
公开(公告)号: | CN104165701B | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
发明(设计)人: | 陆生贵;迟立华 | 申请(专利权)人: | 福建星网锐捷网络有限公司 |
主分类号: | G01K3/08 | 分类号: | G01K3/08 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 350002 福建省福州市仓*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明提供一种电子器件散热异常的检测方法及装置。所述方法包括在电子器件工作时,根据第一温度传感器上报的温度数据,确定所述电子器件所处环境的当前环境温度;并根据第二温度传感器上报的温度数据,确定所述电子器件的当前结温;根据所述当前环境温度和预先构建的正常散热模型,确定所述当前环境温度对应的参考结温和参考温差;计算所述电子器件的当前结温与所述参考结温的第一温差,并当所述第一温差与所述参考温差的第二温差大于或等于预设阈值时,确定所述电子器件散热异常,其中,所述第一温差与所述第二温差均取绝对值。通过本发明提供的方法能够提高散热检测效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 电子器件 散热 异常 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种电子器件散热异常的检测方法,其特征在于,所述方法包括:在电子器件工作时,根据第一温度传感器上报的温度数据,确定所述电子器件所处环境的当前环境温度;并根据第二温度传感器上报的温度数据,确定所述电子器件的当前结温;根据所述当前环境温度和预先构建的正常散热模型,确定所述当前环境温度对应的参考结温和参考温差;其中,所述正常散热模型为根据至少两个所述电子器件在预设的工作环境温度范围内,正常工作时的结温建立的,所述参考结温为所述电子器件正常工作时的结温均值,所述参考温差为至少两个所述电子器件正常工作时的结温的最大温差;计算所述电子器件的当前结温与所述参考结温的第一温差,并当所述第一温差与所述参考温差的第二温差大于或等于预设阈值时,确定所述电子器件散热异常,其中,所述第一温差与所述第二温差均取绝对值。
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