[发明专利]基于CT系统的多底片连续探伤系统和使用方法

摘要

本发明涉及一种基于CT系统的多底片连续探伤系统，包括计算机1、同步控制模块2、射线发生控制器3、射线源4、射线源屏蔽单元5、散射线屏蔽单元6、CT探测器7、运动控制平台8、检测图像接收单元10和转台11，检测图像接收单元10由连接支撑12、连接导向杆13、导向套14和底片连接板15组成，散射线屏蔽单元6，由支撑板17和铅沙袋18组成。本发明的探伤系统是在工业CT系统上进行技术改造，将CT系统平台与底片法射线检测有机结合，成功构建了多底片连续探伤系统。该系统和方法能够通过探伤计算机控制CT机械系统，实现射线源隔离精确定位，实现对固体火箭发动机进行多底片连续探伤，有效解决了发动机底片法射线检测效率低的问题。

主权项

基于CT系统的多底片连续探伤系统，包括计算机(1)、同步控制模块(2)、射线发生控制器(3)、射线源(4)、射线源屏蔽单元(5)、散射线屏蔽单元(6)、CT探测器(7)、运动控制平台(8)、检测图像接收单元(10)和转台(11)，其特征在于：所述的探伤计算机(1)、同步控制模块(2)和射线发生控制器(3)安装在隔离控制室内，所述的射线源(4)、射线源屏蔽单元(5)、散射线屏蔽单元(6)、CT探测器(7)、运动控制平台(8)、检测图像接收单元(10)、转台(11)安装在探伤间内；所述的射线源(4)、CT探测器(7)以及转台(11)安装在运动控制平台(8)上，转台(11)上放置待检测的产品；所述的计算机(1)通过同步控制模块(2)，控制射线源(4)、转台(11)和CT探测器(7)在运动控制平台(8)上的位置；所述的计算机(1)通过操作射线发生控制器(3)控制射线源(4)对产品的检测区域进行透照；所述的射线源屏蔽单元(5)安装在射线源(4)上，用于控制射线源(4)的辐照区，防止非当次透照区域的工业胶片(16)的曝光；所述的散射线屏蔽单元(6)安装在产品的周边，用于消除产品的散射线产生的“边蚀效应”；所述的检测图像接收单元(10)安装在CT探测器(7)上，工业胶片(16)安装在检测图像接收单元(10)上。