[发明专利]一种导体电阻及其电阻率测量装置

摘要

本发明公开了一种导体电阻及其电阻率测量装置，其特征在于其包括恒流源（1）、输入输出单元（3），AD采集模块（2）包括单片机（2-1）、取样电阻（2-2）、被测导体（2-3）、取样电阻AD采集模块（2-4）、被测导体AD采集模块（2-5）；取样电阻AD采集模块（2-4）包括取样第一分压电阻（2-4-1）、取样第二分压电阻（2-4-2）、取样电阻比较放大器（2-4-3）、取样电阻AD芯片（2-4-4）；被测导体AD采集模块（2-5）包括被测第一分压电阻（2-5-1）、被测第二分压电阻（2-5-2）、被测导体比较放大器（2-5-3）、被测导体AD芯片（2-5-4），本发明降低劳动强度，重量轻、体积小，单人可完成,功能强大，可自动操作，可准确分析和判断被测导体材质情况。

主权项

一种导体电阻及其电阻率测量装置，其特征在于其包括恒流源（1），恒流源（1）连接AD采集模块（2），AD采集模块（2）连接输入输出单元（3），AD采集模块（2）包括单片机（2‑1）、取样电阻（2‑2）、被测导体（2‑3）、取样电阻AD采集模块（2‑4）、被测导体AD采集模块（2‑5）；取样电阻AD采集模块（2‑4）包括取样第一分压电阻（2‑4‑1）、取样第二分压电阻（2‑4‑2）、取样电阻比较放大器（2‑4‑3）、取样电阻AD芯片（2‑4‑4）；被测导体AD采集模块（2‑5）包括被测第一分压电阻（2‑5‑1）、被测第二分压电阻（2‑5‑2）、被测导体比较放大器（2‑5‑3）、被测导体AD芯片（2‑5‑4）；取样电阻（2‑2）分别连接恒流源（1）及取样第一分压电阻（2‑4‑1）、取样第二分压电阻（2‑4‑2），取样第一分压电阻（2‑4‑1）、取样第二分压电阻（2‑4‑2）连接取样电阻比较放大器（2‑4‑3），取样电阻比较放大器（2‑4‑3）连接取样电阻AD芯片（2‑4‑4）；被测导体（2‑3）分别连接恒流源（1）及被测第一分压电阻（2‑5‑1）、被测第二分压电阻（2‑5‑2），被测第一分压电阻（2‑5‑1）、被测第二分压电阻（2‑5‑2）连接被测导体比较放大器（2‑5‑3），被测导体比较放大器（2‑5‑3）连接被测导体AD芯片（2‑5‑4），取样电阻AD芯片（2‑4‑4）、被测导体AD芯片（2‑5‑4）均分别与单片机（2‑1）连接。