[发明专利]电子元件检测分选的搬送方法及装置在审
| 申请号： | 201410431040.1 | 申请日： | 2014-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN105080849A | 公开（公告）日： | 2015-11-25 |
| 发明（设计）人： | 郭明宗 | 申请（专利权）人： | 万润科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈亮 |
| 地址： | 中国台湾高雄*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子元件检测分选的搬送方法及装置，主要使待测元件被输送槽道以第一搬送路径从输送口送出时，维持一第一置设方向；及使待测元件在维持一第一置设方向下，被以垂直第一搬送路径方向的第二搬送路径被移送，而自一开口进入一测盘的容置空间；或在被输送槽道以第一搬送路径从输送口送出时进行转向；使进行上侧发光(Top view)及侧面发光(Side view)的发光二极管检测时，可以共用相同的搬送方法及装置。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 检测 分选 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种电子元件检测分选的搬送方法，包括：一整列输出步骤，以一输送机构的输送槽道的输送路径，使待测元件被输送槽道被从一输送口送出；一入料步骤，以一入料机构将从输送口推出的待测元件移送进入一转向机构的一移载部；一转向步骤，转向机构旋转一角度，将移载部中的待测元件旋转搬送至对应一测盘的容置空间；一转换步骤，将待测元件移出移载部往测盘的容置空间方向位移，并使待测元件于测盘的容置空间中被定位、搬送。
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