[发明专利]一种利用X-荧光光谱分析地质样品中主量元素的方法

摘要

本发明公布了一种利用X射线荧光光谱分析地质中主量元素的方法，属于化学分析技术领域。通过利用熔融法将地质样品和标准品制备成玻璃片，然后利用标准品制定校准曲线，最后利用X-荧光光谱仪分析样品中Ti、Fe、Al、Si、K、Ca、Na、Mg、Mn的含量。该方法具有制样简单、操作方便、测量结果准确等优点。

主权项

一种利用X射线荧光光谱分析地质中主量元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)样品的制备：将样品在100～110℃条件下烘2～2.5h，然后将标样或待测样品、混合熔剂以及NH₄NO₃混合，放置在铂金‑金合金钳锅中，搅拌均匀，再向其中滴加脱模剂，置于熔样机上，在700～800℃中放置3～6min，然后升温至1100～1300℃，熔融5min，再摇动5min，静置1min后倒入模具内浇铸成玻璃熔片；(2)标准曲线的制定：按照步骤的方法制备标准品，然后利用能量色散X‑射线荧光光谱仪分析，制定校准曲线；(3)测量条件：样品中的各种物质测量条件如下：Mn、Ti、Fe：选择Kα线，管压75kV，管流8mA，二级靶用Ge，测量时间为250s；Al、Si、K、Ca选择Kα线，管压40kV，管流15mA，二级靶用Ti，测量时间为250s；Na、Mg：选择Kα线，管压25kV，管流24mA，二级靶用Al，测量时间为300s。