[发明专利]等离子处理装置有效
申请号: | 201410440345.9 | 申请日: | 2014-09-01 |
公开(公告)号: | CN104425202B | 公开(公告)日: | 2018-09-18 |
发明(设计)人: | 置田尚吾;奥根充弘 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 刘建 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种等离子处理装置,抑制等离子处理中的、对环状框架造成的热影响,还防止该热影响所导致的罩的损伤。对保持在由环状的框架(7)和保持片(6)构成的搬运托架(5)上的基板(2)实施等离子处理。等离子处理装置具备:腔室(4),其具有能够减压的内部空间;等离子源(12),其在腔室(4)内产生等离子;工作台(11),其设置在腔室(4)内,并载置搬运托架(5);罩(28),其载置在工作台(11)的上方,覆盖保持片(6)和框架(7),且具有以在厚度方向上贯通的方式形成的窗部(32)。罩(28)由导热性优异的材料构成,暴露于等离子的表面中的、至少窗部(32)侧由保护部(28a)覆盖,保护部(28a)由与等离子反应的反应性低的材料构成。 | ||
搜索关键词: | 等离子 处理 装置 | ||
【主权项】:
1.一种等离子处理装置,其对保持在搬运托架上的基板实施等离子处理,该搬运托架由环状的框架和保持片构成,所述等离子处理装置的特征在于,具备:腔室,其具有能够减压的内部空间;等离子源,其在所述腔室内产生等离子;工作台,其设置在所述腔室内,并载置所述搬运托架;罩,其载置在所述工作台上,覆盖所述保持片和所述框架,且具有以在厚度方向上贯通的方式形成的窗部,所述罩由导热性优异的材料构成,暴露于等离子的表面中的、至少所述窗部的内周面由保护部覆盖,该保护部由与等离子反应的反应性低的材料构成,所述保护部利用组装而安装于所述罩,在所述保护部和所述罩的接触部分形成有凹凸或者突起,或实施有粗糙面加工。
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