[发明专利]发光二极管响应特性的测试系统及方法无效
| 申请号： | 201410443019.3 | 申请日： | 2014-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN104181450A | 公开（公告）日： | 2014-12-03 |
| 发明（设计）人： | 牛立涛;关敏;楚新波;李弋洋;曾一平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 曹玲柱 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种发光二极管响应特性的测试系统及方法。该测试系统包括：计算机调制模块，用于下发脉冲电压参数，并对接收到的光响应和电响应数据进行分析；脉冲电压产生模块，连接至计算机调制模块，用于依照计算机调制模块下发的脉冲电压参数，产生脉冲电压，并将该脉冲电压加载至待测试的发光二极管；以及数据采集模块，用于采集待测试的发光二极管的光响应和电响应数据，并将该光响应和电响应数据上传至计算机调制模块；其中，待测试的发光二极管，连接至脉冲电压产生模块，其在脉冲电压产生模块产生的脉冲电压的驱动下发光。本实施例能够实现脉冲电压下发光二极管光响应及电响应的同时快速测定。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 响应 特性 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种发光二极管响应特性的测试系统，其特征在于，包括：计算机调制模块(1)，用于下发脉冲电压参数，并对接收到的光响应和电响应数据进行分析；脉冲电压产生模块(2)，连接至所述计算机调制模块(1)，用于依照所述计算机调制模块(1)下发的脉冲电压参数，产生脉冲电压，并将该脉冲电压加载至待测试的发光二极管(3)；以及数据采集模块(4)，用于采集待测试的发光二极管(3)的光响应和电响应数据，并将该光响应和电响应数据上传至所述计算机调制模块(1)；其中，待测试的发光二极管(3)，连接至所述脉冲电压产生模块(2)，其在所述脉冲电压产生模块(2)产生的脉冲电压的驱动下发光。
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