[发明专利]一种用于离子推力器栅极组件的栅间距测量方法和测量具有效
| 申请号： | 201410449605.9 | 申请日： | 2014-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN104236426B | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 唐福俊;周志成;张天平;郑茂繁;黄永杰;孙运奎;贾艳辉 | 申请（专利权）人： | 兰州空间技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01B5/14 | 分类号： | G01B5/14 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心11120 | 代理人： | 温子云,仇蕾安 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于离子推力器栅极组件的栅间距测量具，所述测量具由一组检测段长度不同的台阶轴式塞规组成；所述台阶轴式塞规采用导电金属材料制成，所述台阶轴式塞规中的台阶将台阶轴式塞规分为手柄段和检测段，检测段直径大于加速栅极孔径，且小于屏栅极孔径；手柄段直径大于屏栅极孔径。本发明还提供了一种测量方法，将专用塞规插入屏栅极孔中，通过专用塞规的前端面是否接触到加速栅极来判断被测栅极组件的栅极间距；检测时采用万用表检测屏栅极与加速栅极是否电导通来判断专用塞规的前端是否接触加速栅极。本发明针对离子推力器栅极组件的特点，有效地解决了栅极组件球面区域栅极间距的检测技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 离子 推力 栅极 组件 间距 测量方法 测量 | ||
【主权项】：
一种用于离子推力器栅极组件的栅间距测量方法，所述栅极组件包括屏栅极和加速栅极，其特征在于，该方法所用测量具由一组检测段长度不同的台阶轴式塞规(1)组成；所述台阶轴式塞规(1)采用导电金属材料制成，所述台阶轴式塞规中的台阶将台阶轴式塞规分为手柄段和检测段，检测段直径大于加速栅极(3)孔径，且小于屏栅极(2)孔径；手柄段直径大于屏栅极孔径；进一步的，一种用于离子推力器栅极组件的栅间距测量方法，包括如下步骤：依次将各个规格的台阶轴式塞规插入屏栅极孔中；每插入一个台阶轴式塞规，通过台阶轴式塞规的前端面是否接触到加速栅极来确定被测栅极组件的栅间距；所述台阶轴式塞规的前端面是否接触到加速栅极的判断方法为采用万用表检测屏栅极与加速栅极是否电导通。
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