[发明专利]源无关量子随机数的产生方法及装置有效
申请号: | 201410449817.7 | 申请日: | 2014-09-04 |
公开(公告)号: | CN104238996B | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
发明(设计)人: | 马雄峰;曹竹;袁骁 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G06F7/58 | 分类号: | G06F7/58 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提出一种源无关量子随机数的产生方法,包括以下步骤接收端接收源发射的光子信号,并将光子信号中包含的多光子信号转化为等价的单光子信号;对单光子信号进行X基矢或Z基矢调制,并对X基矢或Z基矢进行投影测量;根据Z基矢的测量结果计算错误率;根据X基矢的测量结果得到部分随机二进制串;获取部分随机二进制串的最小熵,并进行后处理以得到完全随机的二进制串。本发明的方法无需依赖对源的假设,能够产生由量子力学保证的真随机数,并且该方法能够容忍高信道损失,具有很高的实用价值。本发明还提供了一种源无关量子随机数的产生装置。 | ||
搜索关键词: | 无关 量子 随机数 产生 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种源无关量子随机数的产生方法,其特征在于,包括以下步骤:接收端接收源发射的光子信号,并将所述光子信号中包含的多光子信号转化为等价的单光子信号;对所述单光子信号进行X基矢或Z基矢调制,并对所述X基矢或Z基矢进行投影测量;根据所述Z基矢的测量结果计算所述源的错误率,具体包括:判断所述Z基矢的测量结果是否均为0,记录测量结果,并根据记录的测量结果计算错误率,所述错误率为测量结果为1的测量个数除以测量总个数;根据所述X基矢的测量结果得到部分随机的二进制串;获取所述部分随机的二进制串的最小熵,并进行后处理以得到完全随机的二进制串。
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