[发明专利]实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法和测试系统

摘要

本发明公开了一种实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法和测试系统，用于COMMAND模式MIPI模组的出厂前配置测试，其方法的主要步骤包括：PG图像发生器根据MIPI模组的类型设置寄存器配置参数和图像数据，并将寄存器配置参数发送至MCU，将图像数据通过LVDS数据总线接口发送至FPGA；MCU根据寄存器配置参数产生DCS指令并发送至FPGA；FPGA通过LVDS数据总线接口接收图像数据信号，再将DCS指令与图像数据打包后发送至桥接芯片；桥接芯片发送DCS指令配置MIPI模组，并将图像数据转化为MIPI信号后传送至MIPI模组，MIPI模组根据MIPI信号显示图像数据，测试完成。

主权项

一种实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法，其特征在于，包括如下步骤：1)PG图像发生器(1)根据MIPI模组(5)的类型设置寄存器配置参数和图像数据，并将寄存器配置参数发送至MCU(2)，将图像数据通过LVDS数据总线接口发送至FPGA(3)；2)所述MCU(2)根据寄存器配置参数产生DCS指令并发送至FPGA(3)；3)所述FPGA(3)通过LVDS数据总线接口接收图像数据，再将DCS指令与图像数据打包后发送至桥接芯片(4)，所述DCS指令和图像数据在同一个通道进行发送；4)所述桥接芯片(4)发送DCS指令配置MIPI模组(5)，并将图像数据转化为MIPI信号后传送至MIPI模组(5)，所述MIPI模组(5)根据MIPI信号显示图像数据，测试完成。